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超声扫描显微镜C-SAM是一种无损检测设备，利用材料声学性能差异可生成超声图像的装置，它与光学显微镜和电子显微镜有所不同，可以观察材料内部缺陷，能穿透密集的和疏松的固体材料。超声扫描显微镜对内部异常位置的缺陷非常敏感，因为不良缺陷位置影响了超声波正常幅值变化。这种无损检测设备无论是检测范围还是检测水准都能涵盖其他无损检测技术难以检测的材料。最突出的是超声扫描显微镜可以分层展示材料内部图像，这样对一些焊接层、粘接层、填充层，或者结合层的材料内部情况进行分析。
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