水浸超声扫描显微镜主要利用C扫描模式对样品进行检测,为了确定扫描样品的表面和内部缺陷深度,首先使用A扫描信号波进行辅助调试,以下为C扫描检测流程
1.利用A扫描将超声换能器焦点聚焦在样品表面上,由B扫描得到纵向剖面图分析缺陷所在深度。
2.在调整Z轴改变超声换能器的焦点位置,使超声换能器的焦点处于缺陷所在深度。
3.将换能器调整至扫描样品左下方,设置X轴、Y轴扫描距离和扫描步进,根据A扫描图像设置数据闸门或同步闸门等参数。
4.设置采样数据保存路径,开始进行扫描。
5.最后等待扫描结束,调节colorbar,以便显示缺陷细节。见下图复合材料粘接质量,彩虹图C扫描缺陷显示更明显一些。
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