TCS750-10超声扫描成像显微镜

一.产品介绍

TCS750-10超声扫描显微镜是一套适用于微电子领域、DBC基板、靶材行业、的成像系统，利用高频超声（5-300MHZ）和高精度运动机构（3μm）对精密、微小外观的工件进行检测，可以检测出暗裂、微小裂纹、夹杂等缺陷问题，以图像的方式展示，并且最终可以实现被检材料的超声多样化。

二.功能特点

1.支持 A、B、C、3D 扫描，多层扫描，厚度测量等扫描模式。 系统可自动扫查、实时获取水浸超声扫描数据；

2.支持定量分析功能，可用图像的方式显示被测件内部缺陷的位置、形状和大小，并进行缺陷的尺寸和面积统计，自动计算缺陷面积和不良率。

3.支持缺陷自动定位功能，适用于单个或多个工件同时扫描分析，定位精准、检测精度高、C扫描成像直观。

4.采用最新技术的PCIE总线超声板卡，超声系统带宽范围广，采样率高，重复频率高。

5.在C扫描图上可直接测绘缺陷面积，缺陷间距离、评估缺陷和标注异常区，便于实验研究记录。

6.系统具备无人值守功能，用户设定好参数后，系统可自动扫描、自动保存数据等工作，扫描完成后，自动回到原点，等待下一次扫描。

三.技术参数

四.检测图像