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水浸超声C扫描可以检测轴套内部缺陷吗?

发布时间:2024-10-17阅读:67

水浸超声C扫描分析轴套内部缺陷

如果你是生产轴承类工件的技术人员,那么你一定了解锻造和轧制而成的轴承工件,一旦存在裂纹、缩孔、夹杂、白点等缺陷,会严重降低成品的抗冲击和疲劳载荷能力。根据中国轴承工业协会统计,我国轴承市场规模庞大已达到千亿级别,市场是非常有发展前景的。与此同时在质量检测方面的需求也是呈正比的,无损检测设备水浸超声C扫描可对轴承件内部进行扫描检测。

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据统计轴承故障原因中,大约30%是因为轴承损伤导致的,其中轴承的损伤约 90%由轴承套圈表面缺陷导致。因此质量检测不容忽视。在无损检测设技术中,X射线检测虽然有较高的灵敏度,但不适合用于锻造类的缺陷检测,容易造成漏检。水浸超声C扫描设备检测精度高,更容易识别出微小缺陷。采用水浸超声检测对轴套进行缺陷检测是可行的办法,经过系统采集缺陷信号的处理和识别,可以判断存在缺陷。

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 此图仅供读者参考轴类工件扫描状态

水浸超声设备又叫超声扫描显微镜,这种技术最早由国外发展而来,原理是超声波在均匀材料中传播时,遇到缺陷会造成声阻抗不连续,在通过探头收集回来的超声信号波,经过软件可以生成超声C扫描图像,可以判断出缺陷位置及形状,并自动计算缺陷面积,具备使用范围广、精度高,使用便捷等优点。

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轴套展开图 超声C扫描图像

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